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Séminaire sur la simulation de crash test, d'impact et de conception des systèmes de retenue

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Séminaire sur la simulation de crash test, d'impact et de conception des systèmes de retenue

Le 6 février 2008, Paris France.

 

Venez découvrir les nouveautés 2008 de la solution de simulation de crash test, d'impact, de conception des sytèmes de retenue et de dynamique non-linéaire et linéaire.

SUN et ESI Group ont le plaisir de vous convier à une journée de présentation des dernières nouveautés de PAM-CRASH, et PAM-SAFE et du partenariat SUN-ESI Group pour la conception et la fabrication virtuelles.

La version 2008 de cette suite logicielle offre de nouvelles fonctionnalités permettant d’étendre les domaines d’utilisation grâce notamment à la technologie implicite

Avec le modèle crash comprenant les points de soudure, le solveur implicite permet désormais de traiter les applications suivantes:

  • Les analyses courantes de rigidité et de modes propres sur les ouvrants (capots ou portes par exemple), et la caisse en blanc,
  • les analyses de contraintes initiales en pré-crash,
  • les analyses de « retour élastique » après chocs
  • et les analyses non linéaires de tenue aux chargements statiques.

Vous assisterez également à la présentation de la dernière version de Visual Environment permettant la mise en oeuvre et l'exploitation des résultats de calcul.

 Crash simulation

A qui s'adresse ce séminaire?

  • Aux équipementiers et aux fabricants de vehicules
  • aux responsables simulation,et conception
  • aux spécialistes simulation de crash et des systèmes de retenue,
  • aux spécialistes NVH



INSCRIPTION GRATUITE:
Cliquez ici pour vous inscrire!

En partenariat avec

SUN Microsystems

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Video interview of ESI Group Chairman & CEO Alain de Rouvray
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